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反射箔的發射率測量技術介紹
測量低發射率箔片總近法向發射率的程序，使最終用戶能夠使用積分球裝置或全半球近法向反射計對發射率低于0.1的不確定度低于0.03的反射箔片進行發射率測量。
本良好實踐指南的目的是為最終用戶提供以下建議和程序：使用商用TIR100-2發射儀或與傅立葉變換光譜儀相關的紅外積分球，對不確定度低于0.03的反射箔（發射率＜0.1）進行總近法向發射率測量，-測定反射率低于0.05的反射箔（發射率＜0.1）的半球總發射率。在歐盟，最終用戶主要用于測量反射箔發射率的設備是與FTIR光譜儀和INGLAS公司的反射計TIR100-2相關的積分球。在EMIRIM項目中對這兩種測量技術進行了詳細的研究，并對它們在測定低發射率反射片總半球發射率方面的性能進行了量化。
積分球的一般原理
樣品近法向光譜發射率的測量：測量原理見Erreur！入射輻射束（光譜調制）由FTIR光譜儀產生。積分球用于收集樣品表面反射的輻射，無論反射的擴散是否有規律。入射光束相對于樣本表面的法線略微傾斜，
因此反射的鏡面分量總是由積分球收集。由于樣品反射的輻射在積分球上的多次反射，積分球方法原則上對樣品上反射的角度分布不敏感，并且檢測器測量的信號與樣品的反射率成比例。
必須使用在接近正常光譜反射下校準的樣品對系統進行校準；
校準標準
對于低發射率箔片的發射率測量，建議使用鏡面低發射率標準（鏡子）。標準的校準應可追溯到SI（國際單位制），標準的總近法向發射率的擴展不確定度應約為0.02（k=2）。
測試的樣品
如果測試的反射箔是透明的或有孔（例如水蒸氣滲透性），則在測量過程中，應放置一個高發射率不透明表面，使其與箔的背面接觸。這種配置更好地代表了在隔熱系統中使用大多數反射箔的實際配置，
通常在箔后面有高發射率材料。
帶“單光束替代誤差"校正的測量序列的描述
對于積分球，當高反射校準參考樣品被另一個樣品代替時，由積分球壁組成的空腔、開口和從球體內部可見的樣品表面的平均反射率發生變化。因此，對積分球系統的輻射測量靈敏度進行了修正。
輻射測量靈敏度的這種修改通常是重要的，必須考慮到這一點才能無誤地計算樣品的光譜反射率。靈敏度隨樣品反射率（發射率）變化產生的誤差稱為“單光束樣品吸收誤差"[1]或“單光束替代誤差[2]。圖2顯示了反射率測量的不同配置，并對“單光束替代誤差"進行了系統校正。
TIR100-2型是一種緊湊型手持分析儀器,采用的是一種無損技術,測量每秒內的熱發射率。
國際公路貨運公司是在德國制造的。
數秒鐘內完成的測量
通過易于使用的觸摸屏操作和結果
高測量精度和重復性
測量樣品保持在常溫下
可在現場或實驗室使用的便攜式裝置
