反射箔的發(fā)射率測量技術(shù)介紹

發(fā)布日期：2023-12-16      瀏覽次數(shù)：1002

反射箔的發(fā)射率測量技術(shù)介紹

測量低發(fā)射率箔片總近法向發(fā)射率的程序，使最終用戶能夠使用積分球裝置或全半球近法向反射計對發(fā)射率低于0.1的不確定度低于0.03的反射箔片進行發(fā)射率測量。

本良好實踐指南的目的是為最終用戶提供以下建議和程序：使用商用TIR100-2發(fā)射儀或與傅立葉變換光譜儀相關的紅外積分球，對不確定度低于0.03的反射箔（發(fā)射率＜0.1）進行總近法向發(fā)射率測量，-測定反射率低于0.05的反射箔（發(fā)射率＜0.1）的半球總發(fā)射率。在歐盟，最終用戶主要用于測量反射箔發(fā)射率的設備是與FTIR光譜儀和INGLAS公司的反射計TIR100-2相關的積分球。在EMIRIM項目中對這兩種測量技術(shù)進行了詳細的研究，并對它們在測定低發(fā)射率反射片總半球發(fā)射率方面的性能進行了量化。

積分球的一般原理

樣品近法向光譜發(fā)射率的測量：測量原理見Erreur！入射輻射束（光譜調(diào)制）由FTIR光譜儀產(chǎn)生。積分球用于收集樣品表面反射的輻射，無論反射的擴散是否有規(guī)律。入射光束相對于樣本表面的法線略微傾斜，

因此反射的鏡面分量總是由積分球收集。由于樣品反射的輻射在積分球上的多次反射，積分球方法原則上對樣品上反射的角度分布不敏感，并且檢測器測量的信號與樣品的反射率成比例。

必須使用在接近正常光譜反射下校準的樣品對系統(tǒng)進行校準；



校準標準

對于低發(fā)射率箔片的發(fā)射率測量，建議使用鏡面低發(fā)射率標準（鏡子）。標準的校準應可追溯到SI（國際單位制），標準的總近法向發(fā)射率的擴展不確定度應約為0.02（k=2）。

測試的樣品

如果測試的反射箔是透明的或有孔（例如水蒸氣滲透性），則在測量過程中，應放置一個高發(fā)射率不透明表面，使其與箔的背面接觸。這種配置更好地代表了在隔熱系統(tǒng)中使用大多數(shù)反射箔的實際配置，

通常在箔后面有高發(fā)射率材料。

帶“單光束替代誤差"校正的測量序列的描述

對于積分球，當高反射校準參考樣品被另一個樣品代替時，由積分球壁組成的空腔、開口和從球體內(nèi)部可見的樣品表面的平均反射率發(fā)生變化。因此，對積分球系統(tǒng)的輻射測量靈敏度進行了修正。

輻射測量靈敏度的這種修改通常是重要的，必須考慮到這一點才能無誤地計算樣品的光譜反射率。靈敏度隨樣品反射率（發(fā)射率）變化產(chǎn)生的誤差稱為“單光束樣品吸收誤差"[1]或“單光束替代誤差[2]。圖2顯示了反射率測量的不同配置，并對“單光束替代誤差"進行了系統(tǒng)校正。

TIR100-2型是一種緊湊型手持分析儀器,采用的是一種無損技術(shù),測量每秒內(nèi)的熱發(fā)射率。



國際公路貨運公司是在德國制造的。

TIR100-2型的特點

• 數(shù)秒鐘內(nèi)完成的測量

• 通過易于使用的觸摸屏操作和結(jié)果

• 高測量精度和重復性

• 測量樣品保持在常溫下

• 可在現(xiàn)場或?qū)嶒炇沂褂玫谋銛y式裝置