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seishin粉體、微顆粒壓縮試驗(yàn)裝置顯微硬度計(jì)MHT-1介紹
顯微硬度計(jì)MHT-1是一種自動(dòng)壓縮測(cè)試裝置，通過改變測(cè)量臺(tái)來針對(duì)50至400μm的細(xì)小顆粒。該裝置通過測(cè)量用壓頭施加載荷壓碎顆粒時(shí)的峰值載荷和粒徑來計(jì)算壓碎強(qiáng)度。從壓縮到失效的過程用圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線記錄。通過從測(cè)量結(jié)果中選擇任意顆粒，您可以通過載荷位移曲線和連續(xù)圖像來檢查斷裂過程。
利用我們的技術(shù)，我們對(duì)每個(gè)顆粒進(jìn)行分散和采樣。 測(cè)量時(shí)，只需加載樣品，壓縮測(cè)試和清潔就會(huì)自動(dòng)重復(fù)。
使用圖像分析，重疊的顆粒和聚集體被排除在測(cè)量之外，并且通過自動(dòng)識(shí)別每個(gè)顆粒是單個(gè)顆粒來執(zhí)行壓縮測(cè)試。
| 規(guī)格清單 | MHT-1 | MHT-1W（高分辨率） |
|---|---|---|
| 測(cè)量方法 | 恒負(fù)載法 | |
| 測(cè)量項(xiàng)目 | 高度粒徑、峰值載荷、位移、壓碎強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、變形強(qiáng)度 | |
| 目標(biāo)粒徑 | 50 至 400μm （手動(dòng)測(cè)量為 1mm） * 需要更換載物臺(tái) | 40～120μm |
| 下降速度 | 1.0~10μm/秒選擇 | 0.01~10μm/秒選擇 |
| 測(cè)量的顆粒數(shù) | 每個(gè)樣品最多可容納 500 粒 | |
| 稱重傳感器 試驗(yàn)力 | 1N（最小顯示0.01mN） 5N、10N、20N也可更改 （可選） | 1N（最小顯示0.01mN） 5N可改 （可選） |
| 相機(jī) | CMOS USB 攝像頭從 “480 x 270”130,000 像素、“640 x 360”230,000 像素、“960 x 540”520,000 像素和 “1920 x 1080”2,070,000 像素中選擇。 | |
| 機(jī)身尺寸 | W450×D460×H400 mm *包括突出部分 | |
| 體重 | 約25公斤 | 約26公斤 |
| 公用事業(yè) | AV100V 50/60Hz 2A | |
| 其他的 | 壓頭：直徑0.45mm直頭（表面處理） LED燈、防塵罩、校準(zhǔn)砝碼 | |
