四款激光體積測定儀橫評：Volscan、BVM、k-axis誰更適合烘焙質檢？

發布日期：2025-07-15      瀏覽次數：4

以下是四款食品體積測定儀（Volscan Profiler、BolScan、BVM-L系列、日本k-axis AR-01）的對比分析，基于技術參數、功能特點、應用場景等方面的綜合評估：

1. Volscan Profiler

• 核心技術：激光立體掃描技術，非接觸式測量，支持3D建模。

• 測量參數：體積、長寬高、每100g面粉體積、樣品形狀（2D/3D圖形）。

• 精度與速度：體積精度±1%，掃描時間約22秒（樣品高150mm）。

• 適用場景：

• 烘焙業（軟面包、含堅果/水果的產品）；

• 質量控制、研發、學術研究。

• 優勢：

• 符合AACCI 10-16.01標準；

• 數據庫支持批量比對；

• 適應易碎或超軟樣品。

2. BolScan（推測為BVM系列，如BVM 6600/6640）

• 核心技術：激光繪圖技術，樣品旋轉半圈完成掃描。

• 測量參數：體積、長/寬/高、密度、重量（可選），生成3D旋轉圖。

• 精度與速度：精度±0.5%，檢測時間20-30秒。

• 適用場景：

• 烘焙食品（面包、蛋糕、餅干）；

• 面粉企業、食品研發機構。

• 優勢：

• 符合AACCI 10-14.01標準；

• 多型號可選（如BVM 6640支持大樣品）；

• 操作簡易，支持自定義參數。

3. BVM-L系列

• 核心技術：全計算機控制激光傳感器，半圈掃描。

• 測量參數：體積、長/寬/深、比容（需輸入重量），提供二維旋轉圖。

• 精度與速度：檢測時間10-60秒，無需標定。

• 適用場景：

• 食品加工企業、高校研究；

• 適用于多種烘焙產品。

• 優勢：

• 非接觸測量，避免人為誤差；

• 數據可直接存儲為數據庫文件。

4. 日本k-axis AR-01

• 核心技術：雙攝像頭激光掃描，支持高速/高精度模式。

• 測量參數：體積、長軸/短軸、長寬比、耐嚼性（可選重量/比體積）。

• 精度與速度：

• 高精度模式±1%（40秒），高速模式±4%（10秒）。

• 適用場景：

• 面包行業（縱橫比/剛度分析）；

• 產線質量控制。

• 優勢：

• 無損測量，兼容軟樣品；

• 即時數據顯示（最大值/最小值/平均值）。

對比總結

維度	Volscan Profiler	BolScan (BVM系列)	BVM-L系列	k-axis AR-01
核心技術	3D激光掃描	激光旋轉掃描	半圈激光掃描	雙攝像頭激光掃描
測量速度	22秒（150mm樣品）	20-30秒	10-60秒	10-40秒（模式可選）
精度	±1%	±0.5%	未明確，但快速	±1%（高精度模式）
數據輸出	2D/3D圖形、數據庫比對	3D模型、自定義報告	二維旋轉圖、Excel存檔	CSV文件、形狀圖像
適用樣品	超軟/易碎烘焙品	多種尺寸烘焙品	通用食品	面包、糖果等非規則固體
行業標準	AACCI 10-16.01	AACCI 10-14.01	未提及	兼容行業質量控制需求

---

選購建議

• 研發與學術研究：Volscan Profiler（3D分析能力強）或BVM-L（成本可能更低）。

• 產線質量控制：k-axis AR-01（高速模式）或BolScan（高精度）。

• 大樣品需求：BVM 6640（支持45cm高度樣品）。