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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本mountech圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View只需輸入讀取圖像中的條件，即可自動識別顆粒并快速，準確地測量粒度分布，形狀系數(shù)等。通過使用手動工具結(jié)合數(shù)位板，甚至可以輕松識別形狀復雜的顆粒。
| 產(chǎn)品類別 | 生產(chǎn)過程質(zhì)量檢測類LIMS |
|---|
日本mountech圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View
結(jié)合各種識別工具實現(xiàn)對所有顆粒的測量和分析
圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View只需輸入讀取圖像中的條件，即可自動識別顆粒并快速，準確地測量粒度分布，形狀系數(shù)等。
通過使用手動工具結(jié)合數(shù)位板，甚至可以輕松識別形狀復雜的顆粒。
Mac-View Version.5的新功能和改進
-將“針形"添加到粒子采集模式
?提高了自動識別處理的速度
?提高了自動識別的精度
?符合JIS8827-1（2018）
■凝聚粒子的一次粒徑分析
可以評估聚集顆粒的初級粒徑，這在過去是困難的。
■納米粒子的評估
只要有規(guī)模信息，不管粒徑大小，都可以進行分析。
■多方面的分析/評估
可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度，長寬比等）。另外，可獲得的數(shù)據(jù)豐富，并且可以評估聚集顆粒的初級顆粒。
■易于操作
不需要任何專門知識，并且易于操作，因此操作員的熟練程度無關(guān)緊要。
■無需昂貴的資本投資
只要準備好圖像（jpeg，位圖），就可以在PC上安裝軟件后立即使用它們。
■粉末分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是全面粉末分析軟件的新領(lǐng)域，它可以集中管理和分析通過任何方法測量的“粒度分布數(shù)據(jù)"。
■篩選測試數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh是一種有效工作的工具，它可以消除篩分大量數(shù)據(jù)的測試中的人為錯誤。
日本mountech圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View
測量功能 | 面積/圓周長度/主軸/短軸/z大長度/z小長度/海伍德直徑/圓周圓當量直徑/圓度系數(shù)/長寬比/形狀系數(shù)1-3 /費雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆貝因直徑/雙軸平均值直徑，雙軸幾何平均直徑，雙軸協(xié)調(diào)平均直徑，長度等。 |
分析功能 | 粒度％? ON / PASS分析?體積/數(shù)量/長度轉(zhuǎn)換?峰數(shù)據(jù)分析?摘要數(shù)據(jù)分析?粒度分類轉(zhuǎn)換?垂直篩分?形狀系數(shù)分析?數(shù)據(jù)合成?數(shù)據(jù)分組 |
其他功能 | 各種圖形顯示功能，各種打印輸出功能，文本輸出功能，圖像輸出功能等。 |
操作環(huán)境 | ●運行Microsoft Windows 7/8/10的PC / AT兼容計算機（均兼容32/64位） |
對應(yīng)標準 | 基于JIS Z 8827-1 |
基本功能 | 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換功能（根據(jù)數(shù)據(jù)文件格式可選），數(shù)據(jù)搜索功能，統(tǒng)計處理功能，管理圖創(chuàng)建功能，累積/頻率圖顯示，匯總數(shù)據(jù)分析（10步百分比數(shù)據(jù)，MV，MN，MA，CS，SD等） ，多種數(shù)據(jù)疊加，設(shè)置切換功能（粒度分類，篩子上下篩分，體積/數(shù)量/面積/長度顯示切換），各種圖形顯示功能，各種打印輸出功能 |
可選功能 | Login-Ramler分析功能，對數(shù)正態(tài)分布切換功能，差異顯示功能，合成/逆合成比推斷分析功能，峰除分析功能，自動通過/失敗判斷功能，創(chuàng)建各種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 |
操作環(huán)境 | 運行Microsoft Windows 7/8/10的PC / AT兼容機（兼容32/64位） |
基本功能 | 自動數(shù)據(jù)導入功能，篩分信息登記/調(diào)用功能，圖形顯示切換功能（上篩/下篩，積分/頻率，對數(shù)規(guī)律性，松香拉姆勒等），管理值設(shè)置/合格/不合格判斷功能，篩開校正功能，數(shù)據(jù)比較?覆蓋功能，各種報告打印輸出功能 |
對應(yīng)標準 | JIS Z 8801 / Z 8815 |
操作環(huán)境 | 運行Microsoft Windows 7/8/10的PC / AT兼容機（兼容32/64位） |
