日本daiei大榮科學測厚儀FS-60DS

日本daiei大榮科學測厚儀FS-60DS 一種測量織物、地板覆蓋物、薄膜、橡膠、聚氨酯泡沫等厚度的設備。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1710    

OZUMA22半導體用金屬非接觸式測厚儀

日本sasaki koki半導體用金屬非接觸式測厚儀OZUMA22 精確控制上、下測量噴嘴的背壓，噴嘴定位使噴嘴與被測物體之間的間隙恒定，并與預先用基準規校準的值進行比較計算處理對被測物體進行測量操作，可精確計算厚度。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1490    

OZUMA22半導體晶體非接觸式測厚儀

日本sasaki koki半導體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測量裝置（非接觸式厚度測量裝置） . 非接觸式測厚儀OZUMA22用于控制半導體晶片（Si硅晶片、GaAs、鎵（Ga）砷（As））在背面拋光過程中，或在每個制造過程中的厚度（厚度）。可用于（厚度）控制的非接觸式測量。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1534    

日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600

日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個簡單的磁性測厚儀，可以重復地測量非磁性材料以高準確度的壁厚。操作非常簡單，小球或盤稱為目標材料，電線，放置在或在測量對象一側上，通過在接觸與磁性探測從相反側你掃描，以夾住工件。使用霍爾效應測量探針和靶材料，并實時顯示一個大的顯示器上的測量值之間的距離的傳感器。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1406    

日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS

日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS 創新的 38DL PLUS 預示著超聲波測厚儀的新時代。該手持式測厚儀適用于大多數超聲波壁厚測量的檢測應用，可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用。38DL PLUS 可用于廣泛的應用，從使用雙振蕩器型探頭對內部腐蝕管道的減薄測量到使用單振蕩器型探頭對薄或多層材料的精確厚度測量。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1396    

日本olympus超聲波測厚儀 45MG

日本olympus超聲波測厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標準的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測量探頭，可用于廣泛的應用。

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日本olympus超聲波測厚儀27MG

日本olympus超聲波測厚儀27MG 超聲波測厚儀27MG可以從一側準確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設備結構的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體工程學設計，單手操作更方便。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1401    

在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RM 測厚儀

日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測量厚度而非基重 座椅制造過程中的全寬測量 無需許可證、許可證或創建校準曲線即可輕松操作

更新日期：2025-05-02    訪問量：1536    

適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M

日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M 測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動 通過自動傳輸機制實現穩定的測量重復性 測量數據可自動保存在個人電腦上

更新日期：2024-03-20    訪問量：1679    

臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S 實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側進行測量 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

更新日期：2025-05-02    訪問量：1473    

軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2 高測量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。 基重測量 操作簡單（具有自動介電常數設置功能）

更新日期：2025-05-02    訪問量：1580    

TOF-4R05臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001

日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測量方法接觸式/線性規 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等） 測量原理線規

更新日期：2024-03-20    訪問量：1519    

TOF-4R05臺式離線接觸式測厚儀TOF-5R01

日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-5R01 簡單快速的離線厚度測量 測量數據實時顯示在屏幕上 測量數據可自動保存在個人電腦上 由于是自動運輸測量，測量數據不存在個體差異。 也可用于調整雷達圖上的充氣膜。

更新日期：2024-03-20    訪問量：1554    

TOF-4R05臺式離線接觸式測厚儀

日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-4R05 簡單快速的離線厚度測量 測量數據實時顯示在屏幕上 測量數據可自動保存在個人電腦上

更新日期：2024-03-20    訪問量：1546    

MP0R-FP雙范圍MP0R袖珍型雙緊湊型薄膜測厚儀

日本fischer雙范圍MP0R袖珍型雙緊湊型薄膜測厚儀MP0R-FP DUALSCOPE ® MP0R / MP0R-FP 便于攜帶的袖珍型小型膜厚計。通過在電磁型和渦流型之間自動切換，可以測量磁性和非磁性材料的各種膜厚。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1212