日本NCC制造設(shè)備的清潔度檢查燈Mgear 無極燈

日本NCC制造設(shè)備的清潔度檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強大的直線光，具有粗光軸，即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達爾效應(yīng)，并使漂浮在太空中的塵埃可見。此外，可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。

更新日期：2024-03-25    訪問量：770    

日本NCC工作環(huán)境中墻壁灰塵檢查燈Mgear 無極燈

日本NCC工作環(huán)境中墻壁灰塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強大的直線光，具有粗光軸，即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達爾效應(yīng)，并使漂浮在太空中的塵埃可見。此外，可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1285    

日本NCC工作環(huán)境中地板灰塵檢查燈Mgear 無極燈

日本NCC工作環(huán)境中地板灰塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強大的直線光，具有粗光軸，即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達爾效應(yīng)，并使漂浮在太空中的塵埃可見。此外，可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。

更新日期：2024-03-25    訪問量：927    

日本NCC潔凈室浮塵檢查燈Mgear 無極燈

日本NCC潔凈室浮塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強大的直線光，具有粗光軸，即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達爾效應(yīng)，并使漂浮在太空中的塵埃可見。此外，可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。

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日本NCC浮塵可視化檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC浮塵可視化檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

更新日期：2024-03-25    訪問量：860    

日本NCC產(chǎn)品表面異物檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC產(chǎn)品表面異物檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC氣流可視化塵檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC氣流可視化塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC產(chǎn)品表面灰塵檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC產(chǎn)品表面灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC工作臺灰塵檢查燈ZEUS 無極燈

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日本NCC地板灰塵檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC地板灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC墻壁灰塵檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC墻壁灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC手持式灰塵可視化檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC手持式灰塵可視化檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC異物缺陷檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC異物缺陷檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 無極燈

日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。

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日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 光學(xué)測量儀

日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。

更新日期：2024-03-24    訪問量：1150