非接觸式熱物性（熱擴(kuò)散率）測量裝置 TA35型的原理分析

發(fā)布日期：2024-09-04      瀏覽次數(shù)：720

非接觸式熱物性（熱擴(kuò)散率）測量裝置 TA35型的原理分析




• 熱物性測量裝置 熱波分析儀

• TA35型



[特點(diǎn)]
　?非接觸式測量，不受接觸（熱）電阻的影響
　?測量范圍寬～從有機(jī)薄膜到金剛石?
　?單個(gè)裝置可測量水平（XY）和垂直（Z）方向
　?垂直（Z ））方向映射測量








測量原理

 　　

(1) 周期性加熱源 (P0eiωt) 以熱擴(kuò)散率 α 對樣品表面進(jìn)行點(diǎn)加熱
(2) 加熱點(diǎn)溫度的交流分量表示為 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加熱源。 (P0eiωt) 置于周圍區(qū)域，激發(fā)溫度傳播可以用以下公式表示。



(4) c：單位體積比熱容，?：距點(diǎn)熱源的距離
　　k 為溫度波的波數(shù)，用下式表示：



(5) 式中μ為熱擴(kuò)散長度。因此，相位變?yōu)橐韵碌仁健?/span>






特征

范圍 涵蓋廣泛的測量范圍 - 從有機(jī)薄膜到鉆石 -



 

 

靈活的形狀 無論樣品形狀如何，都可以進(jìn)行測量！

～可以測量任何形狀的樣品，圓形、方形、三角形～

熱波分析儀 TA 可滿足客戶開發(fā)現(xiàn)場的需求。



由于無需將測量樣品的形狀與設(shè)備相匹配，因此可以顯著減少樣品制備的工作量和成本。

 

 

安全簡單的操作 操作簡單，只需將樣品放置在電腦上即可操作



 

 

各向異性評估 可在 XYZ 方向連續(xù)測量 ~ 用于評估具有各向異性的材料 ~

垂直測量/水平測量



<應(yīng)用>

• 電子元件散熱材料的評價(jià)

• 半導(dǎo)體激光電極的評價(jià)

• 發(fā)熱材料的評價(jià)

• 硬質(zhì)合金工具涂層的評價(jià)等

 

你了解各向異性嗎？樹脂與各種填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的復(fù)合材料的熱導(dǎo)率
根據(jù)混合比例的不同而發(fā)生很大變化，因此測量熱擴(kuò)散率非常重要。
該設(shè)備可以對同一工件和樣品同時(shí)進(jìn)行三個(gè)方向（X、Y和Z）的連續(xù)測量，非常適合測量想要了解各向異性的樣品。 可用于
測量電子電路中使用的散熱片、碳纖維增強(qiáng)樹脂、高熱電樹脂、聚酰亞胺片等各種樣品。


 

測量示例

電子元件與TIM材料之間的附著力評估

測量目標(biāo) 測量結(jié)果

　　　

層壓材料是由具有不同導(dǎo)熱系數(shù)的材料分層制成的，因此預(yù)計(jì)傳熱將根據(jù)粘合的均勻性而發(fā)生很大變化。
然而，傳統(tǒng)上精確測量層壓材料的導(dǎo)熱率極其困難，這使其成為開發(fā)過程中的問題之一。
該裝置連續(xù)獲取并繪制垂直相位延遲，從而可以相對評估層壓材料的熱傳導(dǎo)。
它不僅適用于材料熱物理性質(zhì)的相對評估，而且適用于檢查零件的缺陷和檢查均勻性。

 

 

電子元件的形狀評價(jià)

測量目標(biāo) 測量結(jié)果

　　

熱導(dǎo)率分布評價(jià)（定性值） *可以將熱導(dǎo)率的均勻程度繪制成圖表。

陣容